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場發射鎗掃描式電子顯微鏡暨能量分散光譜儀(工學院)
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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Instrument Name (Chinese) : 基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
Instrument Name(English) : AutoflexIII, MALDI-TOF-TOF
Abbreviation of the Instrument : MALDI-TOF-TOF
Instrument Webpage :
Instrument Location : 化學館一樓C1004室
Professor in Charge (A)(Chinese): 謝建台
Professor in Charge (A)(English):
Telephone of Professor in Charge (A) : (07)5252000-3933
Professor in Charge (B)(Chinese):
Professor in Charge (B)(English):
Telephone of Professor in Charge (B) :
Technician(Chinese): 鄭儲念
Technician(English): Hung  Su
Telephone of Technician : (07)5252000-3933
Instrument Description : 可分析一般有機合成物質、無機物質、有機光學材料、工業高分子、介面活性劑、染料、supramolecule、dendrimer、和各式生化物質 (如peptide, lipid, carbohydrate, oligonucleotide, 以及protein等),迅速得到分子量訊息及分布,亦可進行二次質譜 (MS/MS) 分析。
Name of Center:國立中山大學貴重共同儀器中心
Region of IC Location: South
Website of IC:http://khvic.nsysu.edu.tw/khvic
Person in Charge:何扭今
Names of Administrative Staff:林明政
Center’s Telephone:(07)5252000~4097
Center’s Mailing Address:高雄市西子灣蓮海路70號
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