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場發射鎗掃描式電子顯微鏡暨能量分散光譜儀(工學院)
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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  • Information of Instrument Center
Instrument Name (Chinese) : 電子顯微鏡-高解析雙槍型離子切削系統
Instrument Name(English) : FIB / FE-SEM / TEM
Abbreviation of the Instrument : FE-SEM & FIB+EDS
Instrument Webpage :http://www.hic.ch.ntu.edu.tw/
Instrument Location : 台大化學系積學館電子顯微鏡室(G69)
Professor in Charge (A)(Chinese): 陳俊顯
Professor in Charge (A)(English): Chun-Hsien Chen
Telephone of Professor in Charge (A) : 02-33664191
Professor in Charge (B)(Chinese):
Professor in Charge (B)(English):
Telephone of Professor in Charge (B) :
Technician(Chinese): 紀素貞
Technician(English): SU JEN JI
Telephone of Technician : 02-33662800
Instrument Description : 雙槍型聚焦離子束顯微鏡(Dual beam FIB: JEOL JIB-4500)可以觀察樣品切割時的影像及成分分析;高解析場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM:JEOL JSM-7600F)可以應用在較表層的形貌觀察,也可以由不同影像信號得到更佳的影像品質.
Name of Center:國立臺灣大學貴重儀器中心
Region of IC Location: North
Website of IC:http://www.hic.ch.ntu.edu.tw
Person in Charge:彭旭明教授
Names of Administrative Staff:逄愛珊
Center’s Telephone:(02)33668658
Center’s Mailing Address:北市羅斯福路四段1號化學系館1F172-3(靠小福郵局)台大貴重儀器中心
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