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Photo 國立臺灣大學貴重儀器中心
場發射鎗掃描式電子顯微鏡暨能量分散光譜儀(工學院)
Photo 國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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  • Information of Instrument Center
Instrument Name (Chinese) : X 光單晶繞射儀
Instrument Name(English) : Single Crystal X-Ray Diffractometer
Abbreviation of the Instrument : SCXRD
Instrument Webpage :http://www.nchu.edu.tw/~rict/xrd
Instrument Location : 興大 化學館1F
Professor in Charge (A)(Chinese): 高漢謀
Professor in Charge (A)(English): Han-Mou Gau
Telephone of Professor in Charge (A) : 22840411 ext480
Professor in Charge (B)(Chinese): 陳繼添
Professor in Charge (B)(English): CHEN, Chi-Tien
Telephone of Professor in Charge (B) : 22840411 ext416
Technician(Chinese): 羅道文
Technician(English): Dao Wen Luo
Telephone of Technician :
Instrument Description : 鑑於中部地區,對小分子結構解析之殷切,中興大學貴儀中心購置 Bruker AXS SMART-1000單晶繞射儀,承蒙國科會及校長配合款,本X光單晶繞射儀,已於八十八年八月底組裝並完成測試,結果顯示此儀器相較於傳統繞射儀確實優異,解決了許多以前無法克服之問題。本儀器於次年二月一日對外開放,藉此儀器幫助本校,逢甲、東海、靜宜、彰師、大葉、朝陽及多所醫學院等,此方面之研究以及有效提升中部與其他地區研究水準之需求。 相對於傳統點技術之平均收集數據需二至三天時間,光電偶合(CCD)偵檢技術屬於繞射面收集,具有同時收集整個繞射晶面之數據之優點, CCD偵檢技術之運用,一個樣品收集數據之時間則大幅縮短至五至七個小時。除了收集時間縮短外,CCD偵檢器且有較高之靈敏度,繞射儀對於繞射強度較弱之小晶體樣品,及大晶格之大分子化合物之數據收集,提供令人興奮之改善效果。
Name of Center:國立中興大學貴重儀器中心
Region of IC Location: Central
Website of IC:http://research.nchu.edu.tw/sub_index.aspx?UnitID=Z0006&c=0
Person in Charge:葉鎮宇
Names of Administrative Staff:林玫姿
Center’s Telephone:(04)22840234
Center’s Mailing Address:台中市國光路250號中興大學貴重儀器中心
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