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高性能液相層析串聯質譜儀
Photo 國立臺灣大學貴重儀器中心
場發射鎗掃描式電子顯微鏡暨能量分散光譜儀(工學院)
Photo 國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
Photo 國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
Photo 國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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Instrument Name (Chinese) : 場發射掃描式電子顯微鏡(農學院)
Instrument Name(English) : Field Emission Scanning Electron Microscope(JSM-7401F)
Abbreviation of the Instrument : FE-SEM
Instrument Webpage :
Instrument Location : 農環大樓5F 5C08及5C11室
Professor in Charge (A)(Chinese): 鍾文鑫
Professor in Charge (A)(English): Wen-Hsing Chung
Telephone of Professor in Charge (A) : 04-22840780轉354-356
Professor in Charge (B)(Chinese):
Professor in Charge (B)(English):
Telephone of Professor in Charge (B) :
Technician(Chinese): 林婉玉
Technician(English): LIN WAN YU
Telephone of Technician : 04-22840780轉305
Instrument Description : 場發射掃描式電子顯微鏡除了與傳統的掃描式電子顯微鏡相同可觀察物體之微結構外,由於其高電場所發射之電子速徑小、亮度高,具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度,解析度可高達1.0nm (15KV)、1.5nm (1KV),但可在低電壓(可低至0.1 kV)下操作,具直接觀察非導體之功能,對生物及非生物樣品之顯微組織可做精細的觀察。本儀器之製造廠商及型號為日本JEOL JSM-7401F冷陰極(Cold Cathode)場發射掃描式電子顯微鏡,冷陰極場發射電子槍較熱(Thermal)場發射及蕭基(Schottky)電子槍而言,其優點是電子束與能量散佈相當小,且在超高真空下操作,解析度佳。此外,顯微鏡上亦加裝了X光能量散譜儀,可對樣品做元素定性及定量分析。
Name of Center:國立中興大學貴重儀器中心
Region of IC Location: Central
Website of IC:http://research.nchu.edu.tw/sub_index.aspx?UnitID=Z0006&c=0
Person in Charge:葉鎮宇
Names of Administrative Staff:林玫姿
Center’s Telephone:(04)22840234
Center’s Mailing Address:台中市國光路250號中興大學貴重儀器中心
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